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　　高溫檢測方法標(biāo)準(zhǔn)有哪些？哪個機(jī)構(gòu)可以提供高溫壽命試驗服務(wù)？有關(guān)高溫試驗內(nèi)容，下面中科檢測小編帶大家來了解。

 

 

　　高溫測試：是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。

 

　　高溫測試檢驗標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F

 

 

　　高溫壽命試驗為利用溫度及電壓加速的方法,藉短時間的實驗來評估IC產(chǎn)品的長時間操作壽命。

 

　　一般常見的壽命實驗方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown)，對于不同的產(chǎn)品類別也有相對應(yīng)的測試方法及條件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。
 

 

 

　　1、GJB 150.3A-2009?《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法?第3部分：高溫試驗》

 

　　2、GJB 360B-2009?《電子及電氣元件試驗方法方法108?高溫壽命試驗》

 

　　3、GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》

 

　　4、GJB 367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范?A02高溫試驗》

 

　　5、GJB 3493-1998?《軍用物資運輸條件》

 

　　6、GJB 150.3-1986?《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法高溫試驗》

 

　　7、GJB 4.2-1983?《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗高溫試驗》

 

　　8、MIL-STD-810F環(huán)境工程考慮和實驗試驗[S]?美國國防部，2000

 

　　9、IEC60068-2-2：2007?電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：高溫

 

 

　　中科檢測是國科控股旗下第三方檢驗檢測認(rèn)證機(jī)構(gòu)，通過了檢驗檢測機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定(CMA)、中國合格評定國家認(rèn)可委員實驗室認(rèn)可(CNAS)。

 

　　中科檢測能提供可靠性測試技術(shù)服務(wù)，對于溫度濕度測試可以依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)對產(chǎn)品進(jìn)行測試，并提供可靠的檢測數(shù)據(jù)。幫助廣大客戶把控產(chǎn)品質(zhì)量，減低生產(chǎn)成本、提高生產(chǎn)效率。

 

　　高溫試驗報告費用及周期，可以咨詢第三方檢測機(jī)構(gòu)-中科檢測，可以嚴(yán)格按照測試標(biāo)準(zhǔn)要求，出具CMA、CNAS報告。