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　　高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試，是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)。基本上所有的產(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。你了解國(guó)標(biāo)高低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)有哪些嗎？第三方高低溫試驗(yàn)測(cè)試機(jī)構(gòu)-中科檢測(cè)小編帶你了解。

 

 

　　GB/T 2423.1 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A: 低溫》；

 

　　GB/T 2423.2 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B: 高溫》。
 

 

 

　　GB2423高低溫測(cè)試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試前先檢查測(cè)試樣品的狀態(tài)，外觀、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，將樣品放入高低溫箱中，設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時(shí)間、變溫的時(shí)間、周期數(shù)。

 

　　比如高溫70 °C下保持2小時(shí)，然后從70 °C半小時(shí)內(nèi)降到低溫-20 °C，保持2小時(shí)，再?gòu)?20 °C半小時(shí)內(nèi)升溫到70 °C。如此循環(huán)，測(cè)試20個(gè)循環(huán)。

 

　　測(cè)完后，拿出樣品，檢查測(cè)試后樣品的外觀、功能、性能等。如發(fā)現(xiàn)樣品跟測(cè)試前相比無(wú)明顯變化，或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類，則表示測(cè)試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。

 

　　電子電器產(chǎn)品的高低溫測(cè)試分為高低溫存儲(chǔ)測(cè)試和高低溫運(yùn)行測(cè)試。高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。高低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。

 

　　高低溫測(cè)試對(duì)測(cè)試的具體溫度、高溫和低溫各自保持的時(shí)間、升溫和降溫的時(shí)間、測(cè)多少個(gè)周期等沒(méi)有固定的標(biāo)準(zhǔn)，委托方可以自己制定企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)，或按客戶要求制定測(cè)試條件。

 

　　制定測(cè)試條件時(shí)可參考產(chǎn)品實(shí)際的存儲(chǔ)環(huán)境、運(yùn)輸環(huán)境及使用環(huán)境等。常做的溫度是-30至70°C，溫度保持時(shí)間2小時(shí)至8小時(shí)不等，變溫時(shí)長(zhǎng)一般半小時(shí)以內(nèi)，循環(huán)周期4至20個(gè)周期不等。

 

 

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