X熒光光譜儀測(cè)試

X熒光光譜儀測(cè)試 測(cè)試介紹
X熒光光譜儀主要由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。其原理就是:X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),來激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(又叫X熒光),并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。
X射線熒光光譜儀分析元素范圍從4號(hào)元素Be到92號(hào)U元素,主要是針對(duì)固體、液體分析,很難分析氣體,所以惰性氣體不屬于X射線熒光光譜儀分析范疇。中科檢測(cè)具備X熒光光譜儀測(cè)試資質(zhì)能力,可以出具CMA、CNAS檢測(cè)報(bào)告。X熒光光譜儀測(cè)試 檢測(cè)范圍
1、涂層成分和厚度分析
X射線熒光光譜儀可以準(zhǔn)確檢測(cè)多層,即多層合金的厚度和成分、上下元素的重復(fù)鍍層、輕元素和有機(jī)物的鍍層和滲透層。
2、環(huán)境檢測(cè)解決方案
X射線熒光光譜儀可以檢測(cè)多種重金屬和有害元素,檢測(cè)的檢出限可以達(dá)到1ppm以下。
3、全要素分析
X射線熒光光譜儀可以分析各種合金、礦石、土壤、珠寶等的元素組成,可以檢測(cè)各種常見的貴金屬和稀土。適用于廣泛的行業(yè),無論是電鍍、5G通訊、新能源、五金建材、半導(dǎo)體、地礦、珠寶、汽車,還是高精密電子、芯片、航空航天等行業(yè)。
X熒光光譜儀測(cè)試 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 41497-2022 釩鐵 釩、硅、磷、錳、鋁、鐵含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法
GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化學(xué)分析方法 第11部分:氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 6609.30-2022 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 第30部分:微量元素含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法
GB/T 40915-2021 X射線熒光光譜法測(cè)定鈉鈣硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量
GB/T 5687.13-2021 鉻鐵 鉻、硅、錳、鈦、釩和鐵含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 40312-2021 磷鐵 磷、硅、錳和鈦含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 40311-2021 釩渣 多元素的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)
GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測(cè)定硅片表面元素污染
GB/T 39560.301-2020 電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測(cè)定 第3-1部分:X射線熒光光譜法篩選鉛、汞、鎘、總鉻和總溴
GB/T 8151.22-2020 鋅精礦化學(xué)分析方法 第22部分:鋅、銅、鉛、鐵、鋁、鈣和鎂含量的測(cè)定 波長色散X射線熒光光譜法
X熒光光譜儀測(cè)試 測(cè)試流程
咨詢溝通(確定檢測(cè)需求)→商定檢測(cè)方案并報(bào)價(jià)(溝通測(cè)定測(cè)試方案并報(bào)價(jià))→付款并寄樣(簽訂委托協(xié)議書,付款并寄送樣品)→按照方案測(cè)試完成測(cè)試(試驗(yàn)、分析測(cè)試及電子報(bào)告確定)→寄送樣品(寄送紙質(zhì)版報(bào)告、發(fā)票及樣品)
X熒光光譜儀測(cè)試 報(bào)告用途
1.招投標(biāo)-部門、事業(yè)單位招投標(biāo);
2.進(jìn)入大型超市或賣場(chǎng),各大網(wǎng)上商城;
3.審核證明,申請(qǐng)補(bǔ)助;
4.工商質(zhì)檢與市場(chǎng)監(jiān)督;
5.國內(nèi)市場(chǎng)銷售、資質(zhì)認(rèn)定;
6.項(xiàng)目驗(yàn)收等;