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進行電子產(chǎn)品高低溫老化測試的原因
發(fā)布時間：2021-12-29 289
　　伴隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品越來越集成化，結(jié)構(gòu)更加精細(xì)了，工序越來越多，制造工藝越來越復(fù)雜，這樣在給生產(chǎn)帶來潛在的缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)與制造中，由于設(shè)計不合理、原材料或工藝措施方面的原因而導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量問題通常有兩類：
 
　　第一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)未能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)，生產(chǎn)的產(chǎn)品達(dá)不到使用要求；
 
　　第二類是普通檢測手段無法檢測到的潛在缺陷，而需要在使用過程中慢慢地暴露出來，像硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片與管殼熱阻匹配不好等等。
 
 
高低溫老化測試

 
　　通常這類缺陷需要在元器件工作于額定功率及正常工作溫度下運行大概1000小時才能完全激活(暴露)。很明顯，對每只元器件測試1000個小時是不現(xiàn)實的，因此必須對其施加熱應(yīng)力與偏壓，比如進行高溫功率應(yīng)力試驗，用來加速這種缺陷的提早暴露。
 
　　也就是說，對電子產(chǎn)品施加熱、電、機械或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬惡劣的工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，令產(chǎn)品提前出現(xiàn)潛伏故障，盡早使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進入高可靠的穩(wěn)定周期。
 
　　經(jīng)過高溫老化能夠使元器件的缺陷、焊接、裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進行電氣參數(shù)測量，對失效或變值的元器件進行篩選剔除，使產(chǎn)品盡可能早期的失效消滅于正常使用中，從而確保出廠的產(chǎn)品可以經(jīng)受得起時間的考驗。
 
　　以上就是中科檢測為大家介紹的電子產(chǎn)品高低溫老化測試的原因，希望對大家有所幫助。
 
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